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igbt(igbt符号)

【igbt(igbt符号)】

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IG *** 四个和八个有区别
IG *** 基本都是并联使用的，四个八个电流能力肯定有区别，当然这是在分离器件规格都相同的情况下MOSFET和IG *** 是什么意思？
原发布者:yunworkMOSFET与IG *** POWERMOSFET优点是高频特性十分优秀（MOSFET可以工作到几百KHZ,上MHZ,以至几十MHZ,射频领域的产品），驱动简单(电压型驱动)，抗击穿性妤(没有雪崩效应)POWERMOSFET的弱点是高耐压化后之功率损失激增 。缺点是耐高压的器件，导通电阻大．在高压大电流场合功耗较大，因此大功率(1500W以上)有些困难 。对于MOSFET来说,仅由多子承担的电荷运输没有任何存储效应,因此,很容易实现极短的开关时间 。POWERMOSFET其高频特性十分优秀，所以MOSFET可用于较高频率的场合 。在低电源电压下动作时之功率损失（POWERLOSS）远低于以往之组件，但是问题是,在高压的"开"状态下的源漏电阻很高(压降高),而且随着器件的电压等级迅速增长（耐压越高导通电阻越大,除了采用COOLMOS管芯的以外) 。因而其传导损耗就很高,特别在高功率应用时,很受限制 。IG *** 优点是驱动简单，导通压降小，耐压高．功率可以达到5000w 。IG *** 弱点是开关频率更大40—50KHz，开关损耗大而且有擎拄效应 。和MOSFET有所不同,IG *** 器件中少子也参与了导电,IG *** 是采用MOS结构的双极器件导通电阻小(发热就少)高耐压,因而可大大降低导通压降 。但另一方面,存储电荷的增强与耗散引发了开关损耗、延迟时间(存储时间)、以及在关断时还会引发集电极拖尾电流 。同时存在的电流尾巴和较高的IG *** 集电极到发射极电压将产生关闭开关损耗 。这样就限制了IG *** 的上限频率由以上什么是IG *** 管？有什么作用？怎样判断好坏？
IG *** 管是有MOS管（场效应管）和双极型达林顿管结合而成 。普通的场效应管仅需微弱的驱动电压即可工作，但工作在高电压和大电流状态时，因为内阻较大，管子发热很快，难以长时间在高电压和大电流状态下工作 。大功率的达林顿管虽然可以在高电压和大电流状态下长时间工作，但需要较大的驱动电流 。将场效应管做为推动管，大功率达林顿管作为输出管 。这样两者优点有机的结合成现在的IG *** 管，功率达1000W以上 。IG *** 管有：P型、N型，有带阻尼的和无阻尼的 。常见的IG *** 管的管脚排列，将管脚朝下，标型号面朝自己，从左到右数，1脚：栅极或称门极（G），2脚：集电极（c），3脚：发射极（e） 。测量前将3个脚短路一下（放电），用指针表1K档正反测量Gc、Ge两极阻值均为无穷大，红笔接c极，黑笔接e极，若所测值3.5K左右，则管内含阻尼二极管，若所测值50K左右，则不带阻尼 。电焊机的IG *** 是什么意思
IG *** 一个全控型电力电子器件，它的原理类似与二极管，通常用于整流和逆变电路中，一般直流电焊机的主要电路是整流电路，IG *** 用于将输入的交流电变换成直流 。IG *** 是怎么个意思?要具体的.
IG ***IG *** (Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅极型功率管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式电力电子器件 。应用于交流电机、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域 。IG *** 是强电流、高压应用和快速终端设备用垂直功率MOSFET的自然进化 。由于实现一个较高的击穿电压BVDSS需要一个源漏通道，而这个通道却具有很高的电阻率，因而造成功率MOSFET具有RDS(on)数值高的特征，IG *** 消除了现有功率MOSFET的这些主要缺点 。虽然最新一代功率MOSFET器件大幅度改进了RDS(on)特性，但是在高电平时，功率导通损耗仍然要比IG ***技术高出很多 。较低的压降，转换成一个低VCE(sat)的能力，以及IG *** 的结构，同一个标准双极器件相比，可支持更高电流密度，并简化IG *** 驱动器的原理图 。导通IG *** 硅片的结构与功率MOSFET 的结构十分相似，主要差异是IG *** 增加了P+ 基片和一个N+ 缓冲层(NPT-非穿通-IG *** 技术没有增加这个部分) 。如等效电路图所示(图1)，其中一个MOSFET驱动两个双极器件 。基片的应用在管体的P+和N+ 区之间创建了一个J1结 。当正栅偏压使栅极下面反演P基区时，一个N沟道形成，同时出现一个电子流，并完全按照功率MOSFET的方式产生一股电流 。如果这个电子流产生的电压在0.7V范围内，那么，J1将处于正向偏压，一些空穴注入N-区内，并调整阴阳极之间的电阻率，这种方式降低了功率导通的总损耗，并启动了第二个电荷流 。最后的结果是，在半导体层次内临时出现两种不同的电流拓扑：一个电子流(MOSFET 电流)； 空穴电流(双极) 。关断当在栅极施加一个负偏压或栅压低于门限值时，沟道被禁止，没有空穴注入N-区内 。在任何情况下，如果MOSFET电流在开关阶段迅速下降，集电极电流则逐渐降低，这是因为换向开始后，在N层内还存在少数的载流子(少子) 。这种残余电流值(尾流)的降低，完全取决于关断时电荷的密度，而密度又与几种因素有关，如掺杂质的数量和拓扑，层次厚度和温度 。少子的衰减使集电极电流具有特征尾流波形，集电极电流引起以下问题：功耗升高；交叉导通问题，特别是在使用续流二极管的设备上，问题更加明显 。鉴于尾流与少子的重组有关，尾流的电流值应与芯片的温度、IC 和VCE密切相关的空穴移动性有密切的关系 。因此，根据所达到的温度，降低这种作用在终端设备设计上的电流的不理想效应是可行的，尾流特性与VCE、 IC和 TC之间的关系如图2所示 。反向阻断当集电极被施加一个反向电压时，J1 就会受到反向偏压控制，耗尽层则会向N-区扩展 。因过多地降低这个层面的厚度，将无法取得一个有效的阻断能力，所以，这个机制十分重要 。另一方面，如果过大地增加这个区域尺寸，就会连续地提高压降 。第二点清楚地说明了NPT器件的压降比等效(IC 和速度相同) PT 器件的压降高的原因 。正向阻断当栅极和发射极短接并在集电极端子施加一个正电压时，P/N J3结受反向电压控制 。此时，仍然是由N漂移区中的耗尽层承受外部施加的电压 。闩锁IG *** 在集电极与发射极之间有一个寄生PNPN晶闸管，如图1所示 。在特殊条件下，这种寄生器件会导通 。这种现象会使集电极与发射极之间的电流量增加，对等效MOSFET的控制能力降低，通常还会引起器件击穿问题 。晶闸管导通现象被称为IG *** 闩锁，具体地说，这种缺陷的原因互不相同，与器件的状态有密切关系 。通常情况下，静态和动态闩锁有如下主要区别：当晶闸管全部导通时，静态闩锁出现 。只在关断时才会出现动态闩锁 。这一特殊现象严重地限制了安全操作区。为防止寄生NPN和PNP晶体管的有害现象，有必要采取以下措施：防止NPN部分接通，分别改变布局和掺杂级别 。降低NPN和PNP晶体管的总电流增益 。此外，闩锁电流对PNP和NPN器件的电流增益有一定的影响，因此，它与结温的关系也非常密切；在结温和增益提高的情况下，P基区的电阻率会升高，破坏了整体特性 。因此，器件制造商必须注意将集电极更大电流值与闩锁电流之间保持一定的比例，通常比例为1：5 。正向导通特性在通态中，IG *** 可以按照“之一近似”和功率MOSFET驱动的PNP晶体管建模 。图3所示是理解器件在工作时的物理特性所需的结构元件(寄生元件不考虑在内) 。如图所示，IC是VCE的一个函数(静态特性)，假如阴极和阳极之间的压降不超过0.7V，即使栅信号让MOSFET沟道形成(如图所示)，集电极电流IC也无法流通 。当沟道上的电压大于VGE -Vth 时，电流处于饱和状态，输出电阻无限大 。由于IG *** 结构中含有一个双极MOSFET和一个功率MOSFET，因此，它的温度特性取决于在属性上具有对比性的两个器件的净效率 。功率MOSFET的温度系数是正的，而双极的温度系数则是负的 。本图描述了VCE(sat) 作为一个集电极电流的函数在不同结温时的变化情况 。当必须并联两个以上的设备时，这个问题变得十分重要，而且只能按照对应某一电流率的VCE(sat)选择一个并联设备来解决问题 。有时候，用一个NPT进行简易并联的效果是很好的，但是与一个电平和速度相同的PT器件相比，使用NPT会造成压降增加 。动态特性动态特性是指IG *** 在开关期间的特性 。鉴于IG *** 的等效电路，要控制这个器件，必须驱动MOSFET 元件 。这就是说，IG *** 的驱动系统实际上应与MOSFET的相同，而且复杂程度低于双极驱动系统 。如前文所述，当通过栅极提供栅正偏压时，在MOSFET部分形成一个N沟道 。如果这一电子流产生的电压处于0.7V范围内，P+ / N- 则处于正向偏压控制，少数载流子注入N区，形成一个空穴双极流 。导通时间是驱动电路的输出阴抗和施加的栅极电压的一个函数 。通过改变栅电阻Rg (图4)值来控制器件的速度是可行的，通过这种方式，输出寄生电容Cge和 Cgc可实现不同的电荷速率 。换句话说，通过改变 Rg值，可以改变与Rg (Cge+C**) 值相等的寄生净值的时间常量(如图4所示)，然后，改变*V/dti 。数据表中常用的驱动电压是15V 。一个电感负载的开关波形见图5，di/dt是Rg的一个函数，如图6所示，栅电阻对IG *** 的导通速率的影响是很明显的 。因为Rg数值变化也会影响dv/dt斜率，因此，Rg值对功耗的影响很大。在关断时，再次出现了我们曾在具有功率MOSFET和 BJT 器件双重特性的等效模型中讨论过的特性 。当发送到栅极的信号降低到密勒效应初始值时，VCE开始升高 。如前文所述，根据驱动器的情况，VCE达到更大电平而且受到Cge和 Cgc的密勒效应影响后，电流不会立即归零，相反会出现一个典型的尾状，其长度取决于少数载流子的寿命 。在IG *** 处于正偏压期间，这些电荷被注入到N区，这是IG *** 与MOSFET开关对比最不利特性之主要原因 。降低这种有害现象有多种方式 。例如，可以降低导通期间从P+基片注入的空穴数量的百分比，同时，通过提高掺杂质水平和缓冲层厚度，来提高重组速度 。由于VCE(sat) 增高和潜在的闩锁问题，这种排除空穴的做法会降低电流的处理能力 。安全运行区SOA按电流和电压划分，一个IG *** 的安全运行区可以分为三个主要区域，如下表所示：这三个区域在图8中很容易识别。通常每一张数据表都提供了正向导通(正向偏置安全运行区FBSOA)、反向(反向偏置安全运行区RBSOA)和短路(短路安全运行SCSOA)时描述强度的曲线 。详细内容：FBSOA这部分安全运行区是指电子和空穴电流在导通瞬态时流过的区域 。在IC处于饱和状态时，IG *** 所能承受的更大电压是器件的物理极限，如图8所示 。RBSOA这个区域表示栅偏压为零或负值但因空穴电流没有消失而IC依然存在时的关断瞬态 。如前文所述，如果电流增加过多，寄生晶体管会引发闩锁现象 。当闩锁发生时，栅极将无法控制这个器件 。最新版的IG *** 没有这种类型的特性，因为设计人员改进了IG *** 的结构及工艺，寄生SCR的触发电流较正常工作承受的触发电流(典型Ilatch>5 IC 正常)高出很多 。关于闭锁电流分别作为结温和栅电阻的一个函数的变化情况，见图9和10 。SCSOASCSOA是在电源电压条件下接通器件后所测得的驱动电路控制被测试器件的时间更大值 。图11所示是三个具有等效特性但采用不同技术制造的器件的波形及关断时间。更大工作频率开关频率是用户选择适合的IG *** 时需考虑的一个重要的参数，所有的硅片制造商都为不同的开关频率专门制造了不同的产品 。特别是在电流流通并主要与VCE(sat)相关时，把导通损耗定义成功率损耗是可行的 。这三者之间的表达式：Pcond = VCE IC，其中，是负载系数 。开关损耗与IG *** 的换向有关系；但是，主要与工作时的总能量消耗Ets相关，并与终端设备的频率的关系更加紧密 。Psw = Ets总损耗是两部分损耗之和：Ptot = Pcond + Psw在这一点上，总功耗显然与Ets 和 VCE(sat)两个主要参数有内在的联系 。这些变量之间适度的平衡关系，与IG *** 技术密切相关，并为客户更大限度降低终端设备的综合散热提供了选择的机会 。因此，为更大限度地降低功耗，根据终端设备的频率，以及与特殊应用有内在联系的电平特性，用户应选择不同的器件 。IG *** 是什么 怎么分类


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